薄膜作製装置：DCマグネトロンスパッタリング装置

薄膜作製装置：RFマグネトロンスパッタリング装置

真空熱処理装置

分析装置：透過型電子顕微鏡(TEM)

分析装置：原子間力顕微鏡(AFM)

分析装置：振動試料型磁力計(VSM)

分析装置：異常ホール効果測定(AHE)

分析装置：電気抵抗率測定 4探針法(four point probe for sheet resistance)

分析装置：磁気光学効果測定装置(PMOKE)

計算サーバー（仮置き中）